در فرایند مطالعات ژئوفیزیک اکتشافی، گام بعدی پس از داده برداری، پردازش داده ها در دو فاز اولیه و ثانویه است. پردازش اولیه براساس تفسیرهای دامنه و شیفت فرکانسی است.

تغییرات لیتولوژی در روش بِم با ایجاد تغییرات در مقادیر دامنه و همچنین جابجایی پیک های فركانس هاي امواج الکترومغناطیس دريافت شده همراه است. با جابجا شدن دستگاه از لیتولوژی های مقاوم و ورود به سازندهای رسانا و همچنین زون های برشی تغییرات واضحی در میزان دامنه و شیفت پدید می آید که منجر به تغییراتی در مرکز و طرفین هر لیتولوژی در مکان پیک فركانس می شود. از طرفی با کاهش فرکانس ارسالی عمق نفوذ موج افزایش می یابد. مطالعه این تغییرات در بررسی لایه ها موثر خواهد بود.

یکی از ویژگی های دستگاه بِم ارسال همزمان فرکانس های مختلف است. بنابراین پیگیری مقاطع دامنه و شیفت به ازای فرکانس های مختلف، به بررسی تغییرات لیتولوژی به ازای شبه سطوح ارتفاعی (و نه عمق) می انجامد.